隨著科技和經(jīng)濟的發(fā)展、社會的進步，計量的作用和意義已日益明顯。下面略舉幾例：
    1．計量與科學技術
    眾所周知，科學技術是人類生存和發(fā)展的一個重要基礎。沒有科學技術，便不可能有人類的今天。其實，計量本身就是科學技術的一個重要的組成部分。任何科學技術，都是為了探討、分析、研究、掌握和利用事物的客觀規(guī)律；而所有的事物都是由一定的“量”組成，并通過“量”來體現(xiàn)的。為了認識量并確切地獲得其量值，只有通過計量。比如，哥白尼關于天體運行的學說，是在反復觀察的基礎上提出的，并在伽利略用天文望遠鏡進行了進一步觀測之后而確立的；著名的萬有引力定律，被牛頓的敏銳觀察所揭示，并在百余年后經(jīng)卡文迪許的精密測試而得到了確認；愛因斯坦的相對論，也是在頻率精密測量的基礎上才得到了一定的驗證；李政道、楊振宇關于弱相互作用下宇稱不守恒的理論，也是吳健雄等人在美國標準局（金標準技術研究院）進行了專門的測試才驗證的?？傊瑥慕?jīng)典的牛頓力學到現(xiàn)代的量子力學，各種定律、定理，都是經(jīng)過觀察、分析、研究、推理和實際驗證才被揭示、承認和確立。計量正是上述過程的重要技術基礎。
    歷史上三次大的技術革命，都充分地依靠了計量，同時也促進了計量的發(fā)展。
    以蒸汽機的廣泛應用為主軍標志的第一次技術革命，導致以機器為主的工廠取代了以手工為基礎的作坊，使生產(chǎn)力得以迅速提高，進而確立了資本主義的生產(chǎn)方式。當時，經(jīng)典力學和熱力學是社會科技發(fā)展的重要理論基礎。在蒸汽機的研制和應用的過程中，都需要對蒸汽壓力、熱膨脹系數(shù)、燃料的燃燒效率、能量的轉換等進行大量的計量測試。力學計量和熱工計量，就是在這種情況下發(fā)展起來的。另外，機械工業(yè)的興起，使幾何量的計量得到了進一步的發(fā)展。
    以電的產(chǎn)生和應用為基本標志的第二次技術革命，更加推動了社會的發(fā)展。歐姆定律、法拉第電磁感應定律，以及麥克斯韋電磁波理論等，為電磁現(xiàn)象的深入研究和廣泛應用、電磁計量和無線電計量的開展，提供了重要的理論基礎。例如，1821年西貝克發(fā)現(xiàn)的熱電效應，為熱電偶的誕生奠定了理論基礎；而各種熱電偶的研制成功，則對溫度計量、電工計量、以及無線電計量等提供了一種重要手段，促進了相應科技的發(fā)展。為了實際測量地球運動的相對速率，邁克爾遜等人利用物理學的成就，研制出了邁克爾遜干涉儀，從而為長度計量提供了一個重要方法。1892年，邁克爾遜用鎬光（單色紅光）作為干涉儀的光源，測量了保存于巴黎的鉑銥合金基準米尺的長度，獲得了相當準確的結果（等于1 553 163.5個紅光波長）。直至百余年后的今天，利用各種干涉儀精密測量長度，仍然是幾何量計量的一種重要方法。普朗克關于能量狀態(tài)的量子化假說，指出物體在輻射和吸收能量時，其帶電的線性諧振子可以和周圍的電磁場交換能量,以致能從一個能級躍遷到另一個能級狀態(tài)，并且能量子的能量為?E＝hυ（式中h——普朗克常數(shù)，υ——頻率）。愛因斯坦在普朗克假說的基礎上，提出了光不僅具有波動性，而且還具有粒子性，即光是以速度c運動的粒子（光子）流，其單元（光子）的能量為?E＝hυ，從而說明不同頻率的光子具有不同的能量。上述理論成功地解釋了光電效應，成了熱輻射計量的理論基礎，同時也使計量開始從宏觀進入微觀領域。隨著量子力學、核物理學的創(chuàng)立與發(fā)展，電離輻射計量逐漸形成。
    核能及化工等的開發(fā)與應用，導致了第三次技術革命。在這個時期，科學技術和社會經(jīng)濟的發(fā)展更加迅速。原子能、化工、半導體、電子計算機、超導、激光、遙感、宇航等新技術的廣泛應用，使計量日趨現(xiàn)代化，計量的宏觀實物基準逐步向量子（自然）基準過渡。原子頻標的建立和米的新定義的形成,有著相當重要的意義。頻率和長度的精密測量，促進了現(xiàn)代科技的發(fā)展。比如，光速的測定、原子光譜的超精細結構的探測以及航海、航天、遙感、激光、微電子學等許多科技領域，都是以頻率和長度的精密測量為重要基礎的。
    至于人們廣泛談論和關注的所謂第四次技術革命，將引起科技、經(jīng)濟和社會的重大變革，人類將進入“超工業(yè)社會”或“信息社會”。那時，不可再生的石化燃料能源將替換成可再生的太陽能、海潮發(fā)電等新能源，鋼鐵、機械、橡膠等傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)將被電子工業(yè)、宇航工程、海洋工程、遺傳工程等新興產(chǎn)業(yè)所征服，等等。這場技術革命的先導是微電子學和計算機，而集成電路又可以說是先導的核心。集成電路的研制，沒有相應的計量保證是不可想象的。比如，硅單晶的幾何參數(shù)、物理特性，超純水、超純氣的純度，化學試劑、光刻膠的性能，膜層厚度、層錯位錯，離子注入深度、濃度、均勻度以及工藝監(jiān)控測試圖形等的測定與控制，都是精密測量。當前，我國集成電路研制尚比較落后，計量工作跟不上是其中的原因之一。
    總之，科學技術的發(fā)展，特別是物理學的成就，為計量的發(fā)展創(chuàng)造了重要的前提，同時也對計量提出了更高的要求，推動了計量的發(fā)展；而計量的成就，又促進了科技的發(fā)展。正如門捷列夫所說：“沒有計量，便沒有科學”。聶榮臻同志也曾明確指出：“科技要發(fā)展，計量須先行”；“沒有計量，寸步難行”。